
Filmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀儀
簡(jiǎn)要描述:Filmetrics F20 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x是一款高精度、多功能的測(cè)量設(shè)備,能夠快速測(cè)定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過(guò)率等特性。其非接觸式測(cè)量方式適合各種脆弱或敏感材料,具備納米級(jí)分辨率,測(cè)量范圍廣(1nm-3mm)。該儀器適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景,包括半導(dǎo)體、光學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。F20膜厚儀可在數(shù)秒內(nèi)提供準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,支持單層及多層薄膜分析,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠支持。
產(chǎn)品型號(hào):F20-UV/F20-NIR/F20-EXR
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間:2025-04-25
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Filmetrics F20 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品介紹:
無(wú)論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率,Filmetrics F20 膜厚儀都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過(guò)USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果?;谀K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn),Filmetrics F20 測(cè)厚儀適用于各種應(yīng)用。
Filmetrics F20 膜厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢(shì):
非接觸測(cè)量:避免損傷薄膜,適用于脆弱或敏感材料;
高精度與寬量程:垂直分辨率達(dá)納米級(jí),可測(cè)厚度范圍從1nm至3mm;
多場(chǎng)景適用性:基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測(cè)量。
測(cè)量速度快:配置完成后,數(shù)秒內(nèi)即可完成測(cè)量。
Filmetrics F20 膜厚儀產(chǎn)品測(cè)量原理:
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射,由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
Filmetrics F20 膜厚儀產(chǎn)應(yīng)用與膜層范例:
薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等
薄膜種類(lèi):透明及半透明薄膜,常見(jiàn)如氧化物、聚合物甚至空氣
薄膜狀態(tài):固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測(cè)量
薄膜結(jié)構(gòu):?jiǎn)螌幽ぁ⒍鄬幽?;平面、曲?/p>
SiNx | TiO2 | DLC |
光刻機(jī)SU-8 | 聚合物 | 有機(jī)電致發(fā)光器AIQ材料 |
非晶硅 | ITO | 硒化銅銦鎵CIGS |
Filmetrics F20 膜厚儀產(chǎn)品常見(jiàn)工業(yè)應(yīng)用:
半導(dǎo)體膜層 | 液晶顯示器 | 光學(xué)鍍層 | 生物醫(yī)學(xué) |
光刻膠 | OLED | 硬涂層 | 聚對(duì)二甲苯 |
介電層 | ITO和TCOs | 抗反射蹭 | 醫(yī)療器械 |
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)量圖:
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